Корпорация Intel и Московский физико-технический институт (МФТИ) объявили итоги конкурса исследовательских проектов в области автоматизации проектирования интегральных схем, в котором участвовали научные коллективы из России, Украины и стран Восточной Европы.
Жюри конкурса, состоявшее из представителей Intel и МФТИ, а также независимых экспертов, рассмотрело 43 проекта. "Их технический уровень оказался достаточно высоким, - говорит Камиль Исаев, директор российского отделения группы технологии и производства корпорации Intel. - Одна из задач, которые решал этот конкурс, - поиск специалистов с опытом работы в области автоматизации проектирования интегральных схем и микропроцессоров. Теперь мы должны организовать взаимовыгодное сотрудничество между научными подразделениями Intel и победителями конкурса, что поможет ученым решать реальные прикладные задачи".
При определении лучших проектов учитывались актуальность исследуемой темы, новизна и оригинальность предлагаемых решений, ресурсы, которыми обладает научная группа для решения поставленных задач, и наличие определённых достижений на пути к реализации проекта. Победителем конкурса признан проект "Модели и методы трассировки при проектировании сверхбольших интегральных схем (СБИС)", разработанный научной группой из Института математики им. С.Л. Соболева Сибирского отделения РАН под руководством доктора физико-математических наук Адиля Ерзина. Этот научный коллектив получил грант на 30 тысяч долларов, которые, по условиям конкурса, необходимо направить на реализацию разработанного проекта.
"Победа в конкурсе позволит нам реализовать свой интеллектуальный потенциал и проверить на практике наши идеи по разработке новых методов трассировки при проектировании СБИС, - говорит Адиль Ерзин. - Построение оптимальной сети соединений на интегральных схемах - один из ключевых этапов проектирования чипов. Между тем для многих математических задач, которые возникают в процессе проектирования, не разработано эффективных алгоритмов решения. Поэтому научная работа в этом направлении крайне важна и перспективна".
Почетными дипломами награждены еще три проекта, участвовавшие в конкурсе:
"Технология моделирования неисправностей для СБИС на основе стандарта IEEE 1500 Embedded Core Test". Проект разработан группой специалистов под руководством профессора Харьковского национального университета радиоэлектроники Владимира Хаханова.
"Автоматическое построение и анализ эффективных алгоритмов формальной верификации моделей". Разработчики проекта - научная группа петербургского отделения Математического института им. В. А. Стеклова РАН под руководством Ариста Кожевникова.
"Синтез тестов для дискретных устройств, построенных в рамках ПЛИС-технологий". Руководитель группы разработчиков проекта - профессор Томского государственного университета Анжела Матросова.
Более подробную информацию об образовательных программах корпорации Intel можно найти на сайте компании.